产品描述

产品性能,满足要求： 
          
 
适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，白金电阻温度传感器（PT100），解析度0.1℃，结构特点老化箱整体不锈钢SUS #304 HL制成，操作设定简易微电脑数位LED控制，具时间规划功能，最大可设定9,990Mins多重超温保护／缺水切电热等安全装置。零件、连接器被动元件，半导体接脚高温高湿氧化试验。
 
 
 
金属接脚沾锡性试验加速老化试验。采用式PID+SSR温度控制器，同时具有时间计时功能，最大可设定9990分式无限。
 
 
 
技术规格参数型号：HW-ZQ-210　
 
　
 
内部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm　
 
外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm　　
 
内外箱体材质：SUS304#优质不锈钢板　　
 
保温层：PV发泡胶　　
 
升温时间:大约40分钟；
 
控制功能:PID+SSR,数字式显示　　
 
蒸气温度: 97℃　　
 
计时功能：1～9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源　　水位控制：附水箱自动补水　　
 
电源：1? 220V±10% 50Hz3.0KW